D-MPOR兩用涂層測(cè)厚儀

D-MPOR兩用涂層測(cè)厚儀由德國(guó)生產(chǎn)，該涂層測(cè)厚儀集合了磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀兩種儀器的功能，可用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。

￥7300.00

HCH-2000F超聲波測(cè)厚儀豪華高精型

HCH-2000F超聲波測(cè)厚儀是采用超聲波脈沖反射法的原理來方便快捷的測(cè)量材料與物體的厚度，它功耗低、穿透力強(qiáng)、精度高、示值穩(wěn)定，攜帶方便。寬大的屏幕。讓您在任何環(huán)境下都可清楚的讀取測(cè)量數(shù)據(jù)。

￥6800.00

HCH-2000E超聲波測(cè)厚儀豪華型

HCH-2000E超聲波測(cè)厚儀是采用超聲波脈沖反射法的原理來方便快捷的測(cè)量材料與物體的厚度，它功耗低、穿透力強(qiáng)、精度高、示值穩(wěn)定，攜帶方便。寬大的屏幕。讓您在任何環(huán)境下都可清楚的讀取測(cè)量數(shù)據(jù)。

￥5600.00

HCH-2000D超聲波測(cè)厚儀高精型

HCH-2000D超聲波測(cè)厚儀是采用超聲波脈沖反射法的原理來方便快捷的測(cè)量材料與物體的厚度，它功耗低、穿透力強(qiáng)、精度高、示值穩(wěn)定，攜帶方便。寬大的屏幕。讓您在任何環(huán)境下都可清楚的讀取測(cè)量數(shù)據(jù)。

￥4800.00

MC-2000D涂鍍層測(cè)厚儀磁性

MC-2000D涂鍍層測(cè)厚儀采用磁性測(cè)厚法，可無損精確的測(cè)量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度。如鋼鐵材料表面的鋅、鉻、錫鍍層及油漆，搪瓷涂層。

￥4200.00

MC-2000C涂鍍層測(cè)厚儀磁性

MC-2000C涂鍍層測(cè)厚儀采用磁性測(cè)厚法，可無損精確的測(cè)量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度。如鋼鐵材料表面的鋅、鉻、錫鍍層及油漆，搪瓷涂層。

￥3950.00

MC-2000A涂鍍層測(cè)厚儀磁性（簡(jiǎn)易型）

MC-2000A涂鍍層測(cè)厚儀采用磁性測(cè)厚法，可無損精確的測(cè)量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度。如鋼鐵材料表面的鋅、鉻、錫鍍層及油漆，搪瓷涂層。

￥3900.00

ED300渦流測(cè)厚儀

ED300型渦流測(cè)厚儀是一種小型便攜式儀器。性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、重現(xiàn)性好、經(jīng)濟(jì)耐用，符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957，多次通過國(guó)家技術(shù)監(jiān)督部門的性能試驗(yàn)，獲得計(jì)量器具制造許可證。

￥3900.00

HCH-2000C+超聲波測(cè)厚儀實(shí)用型

HCH-2000C+超聲波測(cè)厚儀是采用超聲波脈沖反射法的原理來方便快捷的測(cè)量材料與物體的厚度，示值穩(wěn)定，攜帶方便，實(shí)現(xiàn)*基本的檢測(cè)功能，為您帶來經(jīng)濟(jì)實(shí)用的選擇。

￥3800.00

MC-2010A 涂鍍層測(cè)厚儀磁性（簡(jiǎn)易型）

MC-2010A涂鍍層測(cè)厚儀采用磁性測(cè)厚法，可無損精確的測(cè)量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度。如鋼鐵材料表面的鋅、鉻、錫鍍層及油漆，搪瓷涂層。

￥3600.00

HCH-2000C超聲波測(cè)厚儀經(jīng)濟(jì)型

HCH-2000C超聲波測(cè)厚儀是采用超聲波脈沖反射法的原理來方便快捷的測(cè)量材料與物體的厚度，它功耗低、穿透力強(qiáng)、精度高、示值穩(wěn)定，攜帶方便。寬大的屏幕。讓您在任何環(huán)境下都可清楚的讀取測(cè)量數(shù)據(jù)。

￥3300.00

HC-10多功能測(cè)厚儀

HC-10型多能測(cè)厚儀是專門用于測(cè)量剛性和非剛性軟類物體的多用途量具；它既不損傷被測(cè)物體的表面，又能得到精確的測(cè)量數(shù)據(jù)，

￥1480.00

CMI95M便攜式銅箔測(cè)厚儀

CMI95M是一款為測(cè)試銅箔厚度設(shè)計(jì)的電池供電的手持式測(cè)厚儀，它能夠在一秒鐘之內(nèi)測(cè)量印刷電路板上的銅箔厚度，范圍從1/8到4.0盎司/平方英尺（5-140微米）。

￥0.00

CMI730臺(tái)式涂鍍層測(cè)厚儀

CMI730能同時(shí)為磁性基材上的非磁性涂/鍍層、導(dǎo)性基材上的非導(dǎo)性涂/鍍層，以及磁性基材上的電鍍鎳層提供高科技的無損涂鍍層厚度檢測(cè)。

￥0.00

CMI760 PCB專用銅厚測(cè)試儀

CMI760可用于測(cè)量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和精確的測(cè)量。

￥0.00

PG濕膜測(cè)厚儀/梳規(guī)

PG濕膜測(cè)厚儀/梳規(guī)是尺狀的，在六個(gè)面的兩端都有支撐基點(diǎn)，每個(gè)面均有不同長(zhǎng)度的齒。六角型的測(cè)厚儀由耐腐蝕的不銹鋼制成。

￥0.00

PM 濕膜測(cè)厚儀（梳規(guī)）

PM 濕膜測(cè)厚儀（梳規(guī)）是尺狀的，在六個(gè)面的兩端都有支撐基點(diǎn)，每個(gè)面均有不同長(zhǎng)度的齒。

￥0.00

PG-3430 多用途干膜檢驗(yàn)儀

PG-3430 多用途干膜檢驗(yàn)儀通過顯微鏡可觀察，陷坑，裂痕，氣泡，鱗片，層間附著力以及底材預(yù)處理的質(zhì)量控制；

￥0.00

PG-3432 多用途干膜檢驗(yàn)儀

PG-3432 多用途干膜檢驗(yàn)儀通過顯微鏡可觀察，陷坑，裂痕，氣泡，鱗片，層間附著力以及底材預(yù)處理的質(zhì)量控制；

￥0.00